ISPreview : Новости провайдеров

ОТИК: Первый кристалл Центра проектирования «ОТИК-Дизайн»

Центр проектирования СБИС ОАО «Общероссийский Технический Информационный Канал» (ОТИК, г.Зеленоград) объявил об изготовлении первой партии пластин пилотного проекта Центра. Пластины изготовлены партнером ОТИК-Дизайн – европейской компанией X-FAB на ее фабрике в Плимуте, Великобритания, с использованием технологии КМОП с проектной нормой 0, 35 мкм, диаметр пластин 200 мм.

Кристаллы пилотного проекта содержат 5 модулей, каждый из которых является независимой микросхемой. При изготовлении пластин с целью максимального улучшения экономических показателей была использована не только многомодульная технология MPW (Multi Product Wafer), предусматривающая размещение нескольких модулей-микросхем на одном мультиплицируемом кристалле, но и технология MLM (Multi Layer Mask), обеспечивающая размещение четырех различных топологических слоев на одном фотошаблоне.

2 СБИС из пилотного комплекта являются прямыми аналогами микросхем, реализованных на ПЛИС ф. Altera и функционально представляют из себя модули схемы быстрого преобразования Фурье с рекордным для отечественной элементной базы быстродействием. В одной из двух схем реализована самодиагностика в соответствии со стандартом IEEE 1149.1 (JTAG). Разработка проведена совместно со специалистами НИИ суперЭВМ.

Третья схема из пилотного комплекта представляет собой фрагмент специализированного процессора с внешней синхронизацией и предназначена для опробования новой архитектуры, а также для оценки предельного быстродействия цифровых устройств, изготовленных по данной технологии. Четвертый и пятый модули включают в себя различные IP-блоки, в том числе разработанные ОТИК-Дизайн. Это схема FIFO и различные фрагменты ОЗУ и ПЗУ.

В настоящее время проводится исследование микросхем, в том числе в корпусах.

Работы по проектированию СБИС проводились совместно с ведущими оборонными предприятиями России. Завершение работ по аттестации пилотных проектов позволит ОТИК-Дизайн выйти на новые рубежи в проектировании субмикронных СБИС мирового уровня.

22-12-2004, ОТИК